Nikon 推出增強型 Limited Angle CT 技術

這是計算機斷層掃描技術領域的變革性進步，可在保持掃描效率的同時，實現針對大型複雜工業部件的超高分辨率。

Nikon Corporation (Nikon) 為其 VOXLS 和 XT H 225 系列工業 X 射線檢測系統推出了 Limited Angle CT，這是一項創新型計算機斷層掃描 (CT) 技術。 這項技術可在無需對樣品進行 360 度完整旋轉的情況下，實現高分辨率成像，這推動了 CT 掃描技術的發展。Limited Angle CT 可使樣品更靠近 X 射線源，實現更高的放大倍率，從而能夠對較大部件内部特定關注區域進行深入檢測。

這項技術進步采用了精心設計，旨在滿足高端行業的需求，特别适合檢測平面形狀或複雜幾何形狀的部件，例如印刷電路闆、軟包及方殼電動汽車電池，以及碳纖維部件。借助其特有功能，制造商能夠在保持高精度和高效率的同時，簡化檢測流程。

主要特性包括：

• 超高分辨率：對于具有高縱橫比或複雜幾何形狀的樣品，能夠實現更小的體素分辨率，而傳統的幾何放大倍率方法則難以勝任。
• 經過優化的重建：即使在旋轉角度減小的情況下，Nikon 的專有算法也能提供數據集而不會損失質量和準确性，其性能可與傳統 CT 相媲美。
• 自動化操作：Nikon 的旋轉中心計算功能可實現完全自動化的掃描流程，無需人工幹預，也無需定位輔助工具。
• 快速采集：在幾分鐘内即可完成詳細掃描，相比同等應用場景中的傳統 X 射線顯微鏡方法，速度要快得多。

“Limited Angle CT 拓展了我們 X 射線 CT 系統的檢測能力，”Nikon 的 X 射線産品經理 Ben Morgan 表示。“它是 Nikon CT 工具包中的多種先進成像技術之一。Limited Angle CT 與 X.Tend Helical CT、平闆移動 CT、傾斜 CT 和 Scatter Correction CT 等其他方法相輔相成。在系統中具有優秀的多功能性，使操作員能夠為每項特定檢測任務選擇最合适的技術。如今，借助 Limited Angle CT，可以對較大樣品中的特定區域進行高放大倍率檢測。”

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