Nikon 宣布推出 XT V 系列 X 射線和 CT 系統增強功能

Nikon Corporation (Nikon) 宣布為其 XT V 系列 X 射線和 CT 系統推出全面增強功能套件，進一步鞏固該平台作為電子部件無損檢測領域世界級解決方案的地位。這些增強功能使操作員能夠獲得更優圖像質量、掃描更重樣品，并保護敏感部件免受靜電放電和輻射的損壞。

XT V 系列提供一項軟件增強功能與五項硬件增強功能作為可選升級，使客戶可根據具體應用需求定制系統方案。

軟件增強功能：

• 高對比度濾光片 2.0：提供始終清晰的成像效果，确保對于任何樣品形狀和密度組合均可即時發現缺陷。

硬件增強功能： 

• 重型托盤：支持掃描更大、更重的部件。操作員可批量掃描更多部件，提升檢測能力。
• 鑽石視窗：可在整個工作範圍内提供更佳的圖像對比度，尤其适用于低密度和混合材料樣品，能夠降低噪聲并加快掃描速度。
• 低劑量準直器：保護對輻射敏感的電子元件，最大限度降低半導體器件等敏感部件的輻射劑量，同時支持大批量安全檢測。
• ESD 安全功能升級：當安裝在防靜電區域 (EPA) 中時，可按照 IEC 6100-4-2、ANSI/ESD S20.20 和 JEDEC JESD625 标準對敏感電子部件進行防靜電檢測，從而确保集成至防靜電流程中，讓用戶充滿自信。
• 高放大倍率 CT 臂：支持對小型樣品進行更高放大倍率 CT 掃描，使操作員能夠觀察到比以往更精細的細節。

XT V 系列在電子檢測應用領域持續展現卓越性能，涵蓋 PCB、BGA、芯片及半導體器件等檢測場景。該系列延續了其市場領先的 Xi 微焦點 X 射線源以及強大的圖像增強能力，而全新增強功能則為電子制造、半導體生産及質量控制領域的客戶帶來更多價值。

有關增強後的 XT V 系列的更多信息，請訪問 Nikon 的網站。

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